国产精品一区在线观看,一区二区三区高清在线观看,在线视频中文,午夜日韩电影

產(chǎn)品展示首頁 > 產(chǎn)品展示 > > 日本J-RAS > HVUα_1000V離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置

HVUα_1000V離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置

簡要描述：離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（ BIAS VOLTAGE ）, , 經(jīng)過長時(shí)間的測試（1 ～1000 小時(shí)）并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生（ ION MIGRATION ）, , 并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF 試驗(yàn)，絕緣阻力電阻試驗(yàn)，或者是 OPEN/SHORT 試驗(yàn)，我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗(yàn)。（ ION MIGRATION TEST......

  • 更新時(shí)間：2024-05-14
  • 訪  問  量：944
  • 廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
  • 產(chǎn)品型號(hào)：

HVUα_1000V離子遷移試驗(yàn)裝置-1.jpg

HVUα_1000V離子遷移試驗(yàn)裝置-2.jpg

HVUα_1000V離子遷移試驗(yàn)裝置-3.jpg

HVUα_1000V離子遷移試驗(yàn)裝置-4.jpg

 

留言框

  • 產(chǎn)品：

  • 您的單位：

  • 您的姓名：

  • 聯(lián)系電話：

  • 常用郵箱：

  • 省份：

  • 詳細(xì)地址：

  • 補(bǔ)充說明：

  • 驗(yàn)證碼：

    請輸入計(jì)算結(jié)果（填寫阿拉伯?dāng)?shù)字），如：三加四=7