日本J-RAS絕緣劣化試驗(yàn)

離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（ BIAS VOLTAGE ）, 經(jīng)過長時(shí)間的測試（1 ～1000  小時(shí)）并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生（ ION MIGRATION ）, 并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF試驗(yàn)，絕緣阻力電阻試驗(yàn)，或者是 OPEN/SHORT 試驗(yàn)，我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗(yàn)。

產(chǎn)品優(yōu)勢  

1.簡單/便利

△采用驅(qū)動(dòng)計(jì)測，測試時(shí)焊接工序大幅減少。

△軟件設(shè)計(jì)簡單明了，能夠非常直觀得操作。

△配有過程中的記錄、報(bào)告相關(guān)的報(bào)表功能。

△測試中，設(shè)備可以單獨(dú)運(yùn)行，電腦電源切斷也不受影響。

2.高性能&高機(jī)能

△因?yàn)槊總€(gè)通道都單獨(dú)配有電壓/計(jì)測電路，可以做到16ms的計(jì)測間隔。

→遷移現(xiàn)象的檢測能力更高，對(duì)產(chǎn)品品質(zhì)把控更精準(zhǔn)。

△一臺(tái)電腦最大可以增設(shè)400通道。

△每個(gè)通道可以設(shè)定不同的電壓。

3.可靠性更高&操作更簡潔

△具有自身診斷機(jī)能，把異常計(jì)測防范于未然。

△配有CF卡，以防設(shè)備故障數(shù)據(jù)丟失。

△每個(gè)單元獨(dú)立，其中一個(gè)單元損壞，可以單獨(dú)拆卸維修，而不影響其他通道使用。

△標(biāo)準(zhǔn)配置也可以接入1~300V的電壓范圍。

用途

△PCB板、焊接、樹脂、導(dǎo)電性粘著劑、絕緣材料等電遷移測試。

△作為高性能/多通道絕緣電阻測試裝置，可以在多領(lǐng)域利用。

實(shí)例

△測試難度大的高阻值也能除去干擾，清晰得進(jìn)行測試。

△16msec的高速抽樣處理，不會(huì)漏掉任何一個(gè)數(shù)據(jù)。

△電容器等絕緣電阻的試驗(yàn)也非常合適。

日本J-RAS絕緣劣化試驗(yàn)