全國服務(wù)熱線：
13316818270
13316818270
簡要描述：日本J-RAS 500V離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（ BIAS VOLTAGE ）, , 經(jīng)過長時(shí)間的測試（1 ～1000 小時(shí)）并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生（ ION MIGRATION ）, , 并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF 試驗(yàn)，絕緣阻力電阻試驗(yàn)，或者是 OPEN/SHORT 試驗(yàn)，我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗(yàn)。
更新時(shí)間：2024-05-14訪 問 量：1114廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家產(chǎn)品型號(hào)：| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 加工定制 | 是 | 計(jì)測Channel數(shù) | 10CH |
| 計(jì)測電阻值范圍 | 2kΩ~20TΩ | 試驗(yàn)設(shè)定時(shí)間 | 1分～9999小時(shí) |
日本J-RAS 500V離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置用途
離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（ BIAS VOLTAGE ），經(jīng)過長時(shí)間的測試（1 ～1000 小時(shí)）并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生（ ION MIGRATION ），并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF 試驗(yàn)，絕緣阻力電阻試驗(yàn)，或者是 OPEN/SHORT 試驗(yàn)，我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗(yàn)。（ ION MIGRATION TESTING ）
在高溫高濕條件下，對(duì)電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值，也能夠進(jìn)行高效率的絕緣可靠性評(píng)估。
適用規(guī)格 ： JPCA- - ET01- - 2001
500Vの印加電圧で試験可能！エレクトロケミカルマイグレーションテスター
絶縁抵抗測定器 ECM-500シリーズ
製品の特?
1V?500Vのワイド印加電圧&CH個(gè)別電圧出力で様々なサンプルの試験が可能
CH個(gè)別計(jì)測回路搭載により50msec/CHの高速スキャン処理
応答速度100nsec以下の瞬時(shí)リーク電流検出回路でリークタッチ現(xiàn)象を確実にキャッチ
最大100CHの筐體は小型軽量で場所を選ばず設(shè)置でき移設(shè)も容易
チャンバー扉開の接點(diǎn)利用で緊急停止または一時(shí)停止を行える安全機(jī)能
はんだ付け作業(yè)の負(fù)擔(dān)を減らしミスを防ぐCH別カラーケーブルを採用
省電力の専用設(shè)計(jì)で130VAの省エネを?qū)g現(xiàn)(100CH実裝)
シンプルで使いやすい専用ソフトウェア
