13316818270
日本J-RAS
查看更多
簡(jiǎn)要描述:離子遷移試驗(yàn)裝置是一種信賴(lài)性試驗(yàn)設(shè)備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓( BIAS VOLTAGE ), , 經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試(1 ~1000 小時(shí))并觀察線(xiàn)路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生( ION MIGRATION ), , 并記錄電阻值變化狀況,故又叫做 CAF 試驗(yàn)。
電話(huà)
在線(xiàn)交流
微信掃一掃
返回頂部