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離子遷移實驗裝置絕緣電阻值測試

簡要描述：離子遷移實驗裝置絕緣電阻值測試，在高溫高濕條件下，對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值，也能夠進行高效率的絕緣可靠性評估。

  • 更新時間：2024-05-14
  • 訪  問  量：1221
  • 廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
  • 產(chǎn)品型號：ECM-500
品牌其他品牌產(chǎn)地進口
加工定制否

離子遷移實驗裝置絕緣電阻值測試

離子遷移實驗裝置是一種信賴性試驗設備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（ BIAS VOLTAGE ）, , 經(jīng)過長時間的測試（1 ～1000  小時）并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生（ ION MIGRATION ）, , 并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF  試驗，絕緣阻力電阻試驗，或者是 OPEN/SHORT 試驗，我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗。（ ION MIGRATION TESTING ）

在高溫高濕條件下，對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值，也能夠進行高效率的絕緣可靠性評估。

適用規(guī)格 ： JPCA- - ET01- - 2001

離子遷移實驗裝置絕緣電阻值測試

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